測(cè)試儀采用電路板在線測(cè)試技術(shù)，可以用來在線或離線測(cè)試分析各種中小規(guī)模集成電路芯片的常見故障，測(cè)試模擬、數(shù)字器件的V/I特性。

　　•數(shù)字芯片的功能測(cè)試測(cè)試的基本原理是檢測(cè)并記錄芯片的輸入/輸出狀態(tài)，將其記錄的狀態(tài)與標(biāo)準(zhǔn)的狀態(tài)真值表進(jìn)行比較，從而判斷被測(cè)芯片功能是否正確。

　　•數(shù)字芯片的狀態(tài)測(cè)試電路板上每個(gè)數(shù)字器件，在加電后都有三種狀態(tài)特征：各管腳的邏輯狀態(tài)（電源、地、高阻、信號(hào)等）、管腳之間的連接關(guān)系、輸入輸出之間的邏輯關(guān)系。當(dāng)器件發(fā)生故障后，其狀態(tài)特征一般都要發(fā)生變化。測(cè)試儀能夠把好電路板上的各IC器件的狀態(tài)特征提取出來，存入計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)庫(kù)中，然后與同類有故障的電路板進(jìn)行比較，從而準(zhǔn)確地找出故障部位。

　　•VI特性測(cè)試分析該項(xiàng)測(cè)試功能建立在模擬特征分析技術(shù)基礎(chǔ)上，可用于模擬、數(shù)字、專用器件、可編程器件以及大規(guī)模、超大規(guī)模器件的測(cè)試。測(cè)試儀通過測(cè)試探棒或測(cè)試夾自動(dòng)把被測(cè)點(diǎn)的特征曲線提取出來，顯示在微機(jī)屏幕上，最后存入計(jì)算機(jī)。進(jìn)特故障診斷時(shí)，將實(shí)測(cè)到的VI曲線與事先存貯的標(biāo)準(zhǔn)曲線進(jìn)行比較，進(jìn)而發(fā)現(xiàn)故障。

　　•節(jié)點(diǎn)電壓測(cè)試由于測(cè)試儀測(cè)試對(duì)象不僅包括數(shù)字電路器件，也包括大量的模擬電路器件，為進(jìn)一步提高測(cè)試儀的適用范圍，在測(cè)試儀中采用了節(jié)點(diǎn)電壓測(cè)試技術(shù)。通過對(duì)被測(cè)對(duì)象施加工作電壓，由計(jì)算機(jī)讀取測(cè)試節(jié)點(diǎn)的電壓響應(yīng)值，并建立標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信息庫(kù)，供操作人員分析和判斷故障部位。

　　•其它功能測(cè)試儀除以上主要功能外，還具備電子手冊(cè)、測(cè)試開發(fā)、系統(tǒng)自檢等輔助測(cè)試功能。