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高密度PCB(HDI)制造檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)(3)!

2017-10-19 10:24

7 結(jié)構(gòu)完整性要求

HDI板結(jié)構(gòu)完整性要求需在熱應(yīng)力(Thermal stress)試驗(yàn)后進(jìn)行,熱應(yīng)力試驗(yàn)方法:依據(jù)IPC-TM-650-2.6.8條件B進(jìn)行。除非特殊要求,要經(jīng)過(guò)5次熱應(yīng)力后切片。

金相切片的制作要求依照IPC-TM-650-2.1.1或2.1.1.2進(jìn)行,垂直切片至少檢查3個(gè)孔。金相切片的觀察要求在100X ±5%的放大下進(jìn)行,評(píng)判時(shí)在200X ±5%的放大下進(jìn)行,鍍層厚度小于1um時(shí)不能用金相切片技術(shù)來(lái)測(cè)量。

7.1 鍍層完整性

[1] 金屬鍍層無(wú)裂紋、分離、空洞和污染物;

[2] 微孔底部和Target Pad之間不允許出現(xiàn)未除盡的膠渣或其他雜質(zhì)。

7.2 介質(zhì)完整性

測(cè)試后無(wú)剝離、氣泡、分層、軟化等現(xiàn)象。

7.3 微孔形貌

[1] 微孔直徑應(yīng)滿足:B≥0.5×A

高密度PCB(HDI)制造檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)!

圖7.3-1 微孔形貌

(注:A—微孔頂部電鍍前直徑;B—微孔底部電鍍前直徑。)

[2] 微孔孔口不允許出現(xiàn)“封口”現(xiàn)象:

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圖7.3-2 微孔孔口形貌

7.4 積層被蝕厚度要求

若采用Large Windows方式,積層介質(zhì)在工藝過(guò)程中(如Desmear)被蝕厚度H≤10um。

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圖7.4-1 積層被蝕厚度

7.5 埋孔塞孔要求

埋孔不能有可見空洞,凸、凹現(xiàn)象不能影響介質(zhì)厚度的要求。

8 其他測(cè)試要求

8.1 附著力測(cè)試

表8.1-1 附著力測(cè)試要求



 

序號(hào)

測(cè)試目的

測(cè)試項(xiàng)目

測(cè)試方法

性能指標(biāo)

備注

1

綠油附著力

膠帶測(cè)試

同《剛性PCB檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)》

同《剛性PCB檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)》,且不能露銅

需關(guān)注BGA塞孔區(qū)

2

金屬和介質(zhì)附著力

剝離強(qiáng)度(Peel Strength)

IPC-TM-650 2.4.8

≥5Pound/inch

 

3

微孔盤浮離(Lift lands)

熱應(yīng)力測(cè)試(Thermal Stress)

IPC-TM-650 2.6.8條件B

5次測(cè)試后無(wú)盤浮離現(xiàn)象

 

4

表面安裝盤和NPTH孔盤附著力

拉脫強(qiáng)度測(cè)試(Bond Strength)

IPC-TM-650-2.4.21.1

≥2kg或2kg/cm2

 

 

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